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扫描电镜中的电子束对样品的影响和调节方法

日期:2024-04-12

扫描电镜中的电子束对样品有几方面的影响:

表面充电效应: 电子束会与样品表面的原子或分子相互作用,导致表面充电。这可能会导致成像的失真或产生干扰信号。调节方法包括使用导电性样品支撑或涂层,以及通过在样品表面镀覆导电材料来减少表面充电效应。

样品损伤: 高能电子束可能会导致样品损伤,尤其是对于有机样品或生物样品。为了减少损伤,可以降低电子束的能量、减少电子束的暴露时间或者采用低温条件进行成像。

放射性伪影: 样品中的元素可能会发出X射线或者二次电子,这些辐射可能会干扰成像信号,产生伪影。调节方法包括使用低加速电压、使用适当的检测器来分离成像信号和伪影信号,以及在分析之前进行样品的金属涂覆或者碳涂覆。

散射效应: 电子束在样品中的散射可能会导致成像分辨率的降低。为了减少散射效应,可以使用较低的电子束能量、更小的束直径或者采用适当的样品准备方法,如薄切片或表面涂层。

为了调节电子束对样品的影响,通常需要根据具体的样品类型和成像要求采取相应的措施。这可能涉及调整电子束的能量、电流和聚焦,选择合适的检测器和样品准备方法,以及在成像过程中对样品进行实时监控和调整。

以上就是泽攸科技小编分享的扫描电镜中的电子束对样品的影响和调节方法。更多扫描电镜凯发·产品及价格请咨询15756003283(微信同号)。

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作者:泽攸科技


2024-07-18